X-ray Photoelectron Spectroscopy

XPS Analysis

Wandeln Sie Messdateien in Diagramme um und pruefen Sie XPS-Quellspektrum, Quantifizierung, Peak Fit, chemische Zustandsverhaeltnisse und Data Review.

XPS Analysis oeffnen

Unterstützte Formate

.csv, .txt, .dat, .tsv, .xls, .xlsx

Verfügbare Analysefunktionen

  • Basic Graph

    Prueft die importierten Messreihen als Quell- oder Basisdiagramm, damit Achsen, Signalbereich und Datenqualitaet sichtbar sind.

    Das Ergebnis haengt von Datenqualitaet, gewaehlten Bereichen und Modellannahmen ab. Pruefen Sie Evidenz, Warnungen und Quellbezug vor dem Reporting.

  • Survey Quantification

    Schaetzt atomare Anteile aus Survey-Regionen unter Beruecksichtigung von Flaeche, Hintergrund und RSF-Werten.

    Das Ergebnis haengt von Datenqualitaet, gewaehlten Bereichen und Modellannahmen ab. Pruefen Sie Evidenz, Warnungen und Quellbezug vor dem Reporting.

  • Peak Fit

    Zerlegt ausgewaehlte Peaks oder Regionen in Fit-Komponenten und zeigt Zentrum, Breite, Flaeche, Residuen und Fitqualitaet.

    Das Ergebnis haengt von Datenqualitaet, gewaehlten Bereichen und Modellannahmen ab. Pruefen Sie Evidenz, Warnungen und Quellbezug vor dem Reporting.

  • Chemical-State Ratios

    Gruppiert gefittete Komponenten zu chemischen Zustaenden und vergleicht Anteil- oder Verhaeltniswerte.

    Das Ergebnis haengt von Datenqualitaet, gewaehlten Bereichen und Modellannahmen ab. Pruefen Sie Evidenz, Warnungen und Quellbezug vor dem Reporting.

  • Interface Band Offset

    Kombiniert Kernniveau-, VBM- und Bandluecken-Evidenz zur Pruefung von Interface-Band-Offset-Kandidaten.

    Das Ergebnis haengt von Datenqualitaet, gewaehlten Bereichen und Modellannahmen ab. Pruefen Sie Evidenz, Warnungen und Quellbezug vor dem Reporting.

  • Data Review

    Prueft Parserzuordnung, Zeilenabdeckung, Metadaten und Warnungen.

    Das Ergebnis haengt von Datenqualitaet, gewaehlten Bereichen und Modellannahmen ab. Pruefen Sie Evidenz, Warnungen und Quellbezug vor dem Reporting.

Was dieses Werkzeug prüfen kann

  • Source spectrum graph

    Load CSV/TXT/DAT/TSV rows with energy and intensity columns and render the original XPS spectrum in the shared graph workspace.

  • Source review summary

    Summarize row count, energy range, detected axis type, primary peak candidate, region count, and parser status.

  • Traceable raw export

    Export parsed source rows with file name, source row index, energy, intensity, and region label for follow-up review.

  • Survey quantification

    Estimate atomic % from survey regions using background handling, RSF values, and include/exclude controls.

  • Peak component review

    Inspect selected regions with background handling, seeded components, envelope, residual, and summary values for peak fitting.

  • Chemical-state ratios

    Group fitted peak components into chemical states and compare state fractions or ratios with a compact summary chart.

  • Data Review

    Review parsed region metadata, row counts, energy range, axis direction, duplicate energy points, and parser warnings before analysis.

Typische Anwendungsfälle

  • Review uploaded XPS binding-energy spectra before applying charge correction.
  • Check whether the spectrum axis is binding-energy or kinetic-energy style.
  • Compare visible source spectra with optional display-only Y offset.
  • Export source rows and first-pass spectrum summary values.

FAQ

Was passiert, wenn ich eine XPS Analysis-Datei ablege?

Die Datei wird in der aktuellen Browser-Sitzung eingelesen und in ein Diagramm umgewandelt. Danach koennen Sie XPS-Quellspektrum, Quantifizierung, Peak Fit, chemische Zustandsverhaeltnisse und Data Review im passenden Nexus Analysis Workspace pruefen.

Welche Ergebnisse sollte ich vor dem Reporting pruefen?

Pruefen Sie sichtbare Diagramme, gewaehlte Bereiche, Fitqualitaet, Warnungen und die Herkunft der Messdaten, bevor Sie Werte vergleichen oder berichten.

Wie werden meine Messdateien behandelt?

Die Dateien werden in der aktuellen Browser-Sitzung fuer Diagrammkonvertierung und Analyse verarbeitet. Sie werden nicht ohne Zustimmung nach aussen gesendet oder automatisch gespeichert.

Unterstützter Workflow

  • XPS Analysis wandelt unterstuetzte Messdateien in Diagramme und pruefbare Ergebnisuebersichten um.
  • Die sichtbaren Analysefunktionen zeigen Kandidatenwerte, Statusinformationen und Evidenz, damit Ergebnisse vor dem Reporting geprueft werden koennen.
  • Die Messdateien werden vom oeffentlichen Einstieg nicht automatisch auf dem Server gespeichert.