X-Ray Diffraction

XRD Analysis

Wandeln Sie Messdateien in Diagramme um und pruefen Sie Peak Correction, Reference Peaks sowie Scherrer- und Williamson-Hall-Kandidaten.

XRD Analysis oeffnen

Unterstützte Formate

.uxd, .udf, .dat, .csv, .xrdml, .xml, .raw, .rd

Verfügbare Analysefunktionen

  • Peak Correction

    Vergleicht korrigierte Peakpositionen oder Intensitaeten mit einer Referenz- oder Substratbasis.

    Das Ergebnis haengt von Datenqualitaet, gewaehlten Bereichen und Modellannahmen ab. Pruefen Sie Evidenz, Warnungen und Quellbezug vor dem Reporting.

  • Reference Peaks

    Verwendet eine vom Nutzer bereitgestellte Bibliotheksdatei, um Referenzmarker mit gemessenen Peaks zu vergleichen.

    Das Ergebnis haengt von Datenqualitaet, gewaehlten Bereichen und Modellannahmen ab. Pruefen Sie Evidenz, Warnungen und Quellbezug vor dem Reporting.

  • FWHM / Scherrer

    Passt ausgewaehlte Peakbreiten an und zeigt Scherrer-Kandidatenwerte mit Fit-Evidenz.

    Das Ergebnis haengt von Datenqualitaet, gewaehlten Bereichen und Modellannahmen ab. Pruefen Sie Evidenz, Warnungen und Quellbezug vor dem Reporting.

  • FWHM / Williamson-Hall

    Regressiert mehrere korrigierte Peakbreiten, um Kristallitgroessen- und Mikrostrain-Kandidaten zu pruefen.

    Das Ergebnis haengt von Datenqualitaet, gewaehlten Bereichen und Modellannahmen ab. Pruefen Sie Evidenz, Warnungen und Quellbezug vor dem Reporting.

Was dieses Werkzeug prüfen kann

  • Pattern visualization

    Load diffraction scans and convert them into 2θ-Intensity graphs for visual comparison.

  • Peak Correction

    Compare a sample scan against a substrate or reference peak basis and review corrected 2θ positions and intensities.

  • Reference Peaks

    Use a user-provided library file to create reference peak markers and compare them with measured XRD features.

  • FWHM / Scherrer

    Fit selected peak widths and review Scherrer crystallite-size candidates with fitting evidence.

  • FWHM / Williamson-Hall

    Use multiple corrected peak-width values to review crystallite-size and microstrain candidates on a Williamson-Hall plot.

Typische Anwendungsfälle

  • Review XRD patterns from thin films, powders, and material samples.
  • Compare multiple scans in one workspace before preparing figures or reports.
  • Convert measurement files into 2θ-Intensity graphs for fast review.
  • Use library-file based reference peaks to compare candidate peak positions with measured data.
  • Review Scherrer crystallite-size and Williamson-Hall crystallite-size/microstrain candidates from fitted peak widths.

FAQ

Was passiert, wenn ich eine XRD Analysis-Datei ablege?

Die Datei wird in der aktuellen Browser-Sitzung eingelesen und in ein Diagramm umgewandelt. Danach koennen Sie Peak Correction, Reference Peaks sowie Scherrer- und Williamson-Hall-Kandidaten im passenden Nexus Analysis Workspace pruefen.

Welche Ergebnisse sollte ich vor dem Reporting pruefen?

Pruefen Sie sichtbare Diagramme, gewaehlte Bereiche, Fitqualitaet, Warnungen und die Herkunft der Messdaten, bevor Sie Werte vergleichen oder berichten.

Wie werden meine Messdateien behandelt?

Die Dateien werden in der aktuellen Browser-Sitzung fuer Diagrammkonvertierung und Analyse verarbeitet. Sie werden nicht ohne Zustimmung nach aussen gesendet oder automatisch gespeichert.

Unterstützter Workflow

  • XRD Analysis wandelt unterstuetzte Messdateien in Diagramme und pruefbare Ergebnisuebersichten um.
  • Die sichtbaren Analysefunktionen zeigen Kandidatenwerte, Statusinformationen und Evidenz, damit Ergebnisse vor dem Reporting geprueft werden koennen.
  • Die Messdateien werden vom oeffentlichen Einstieg nicht automatisch auf dem Server gespeichert.