X-Ray Diffraction

XRD Analysis

XRD 측정 파일을 그래프로 변환하고 Peak Correction, Reference Peaks, FWHM / Scherrer, FWHM / Williamson-Hall 흐름을 한 작업공간에서 검토합니다.

Open XRD Analysis Tool

지원 형식

.uxd, .udf, .dat, .csv, .xrdml, .xml, .raw, .rd

사용 가능한 분석 기능

  • Peak Correction

    기판 스캔 또는 기준 피크를 사용해 보정된 2θ 위치와 intensity 변화를 비교합니다.

    Peak Correction 결과는 선택한 substrate scan 또는 reference basis에 의존합니다. 보고 전 보정된 위치를 원본 패턴과 함께 확인하세요.

  • Reference Peaks

    사용자가 제공한 library 파일로 reference peak marker를 만들고 측정 XRD peak와 비교합니다.

    Reference Peaks는 사용자가 제공한 library 파일 기반 비교 보조 정보입니다. 조성, 측정 피크 품질, reference marker를 함께 검토하세요.

  • FWHM / Scherrer

    선택 피크의 FWHM을 피팅해 Scherrer 결정립 크기 후보와 fit evidence를 검토합니다.

    Scherrer size는 후보값입니다. peak 선택, fit 품질, wavelength, instrument broadening 가정에 영향을 받으므로 근거를 확인하세요.

  • FWHM / Williamson-Hall

    여러 피크의 보정 FWHM 값을 회귀해 결정립 크기와 microstrain 후보를 함께 검토합니다.

    Williamson-Hall 값은 후보 결과입니다. peak 선택, 보정 품질, regression evidence를 함께 확인한 뒤 해석하세요.

이 도구로 확인할 수 있는 내용

  • Pattern visualization

    Load diffraction scans and convert them into 2θ-Intensity graphs for visual comparison.

  • Peak Correction

    Compare a sample scan against a substrate or reference peak basis and review corrected 2θ positions and intensities.

  • Reference Peaks

    Use a user-provided library file to create reference peak markers and compare them with measured XRD features.

  • FWHM / Scherrer

    Fit selected peak widths and review Scherrer crystallite-size candidates with fitting evidence.

  • FWHM / Williamson-Hall

    Use multiple corrected peak-width values to review crystallite-size and microstrain candidates on a Williamson-Hall plot.

주요 사용 사례

  • Review XRD patterns from thin films, powders, and material samples.
  • Compare multiple scans in one workspace before preparing figures or reports.
  • Convert measurement files into 2θ-Intensity graphs for fast review.
  • Use library-file based reference peaks to compare candidate peak positions with measured data.
  • Review Scherrer crystallite-size and Williamson-Hall crystallite-size/microstrain candidates from fitted peak widths.

FAQ

XRD 파일을 넣으면 무엇을 확인할 수 있나요?

측정 파일은 2θ-Intensity 그래프로 변환됩니다. 이후 Peak Correction, Reference Peaks, FWHM / Scherrer, FWHM / Williamson-Hall 근거를 검토할 수 있습니다.

Reference Peaks에서 library 파일을 사용할 수 있나요?

네. 사용자가 제공한 library 파일로 reference peak marker를 만들고 측정 XRD pattern과 비교할 수 있습니다.

측정 파일은 어떻게 처리되나요?

이 분석 도구에 업로드한 파일은 그래프 변환과 분석을 위해 현재 브라우저 세션에서 처리됩니다. 사용자 허락 없이 외부로 전송하거나 저장하지 않습니다.

지원 흐름

  • Graph Conversion은 XRD 측정 파일을 2θ-Intensity 보기로 변환해 pattern 비교를 지원합니다.
  • Peak Correction은 기판 스캔 또는 기준 피크를 사용해 보정된 위치와 intensity 변화를 비교합니다.
  • Reference Peaks는 사용자가 제공한 library 파일로 reference 위치 후보와 측정 피크를 비교합니다.
  • FWHM / Scherrer는 선택 피크 폭을 피팅해 Scherrer 결정립 크기 후보와 fit evidence를 검토합니다.
  • FWHM / Williamson-Hall은 여러 피크의 보정 폭을 회귀해 결정립 크기와 microstrain 후보를 함께 검토합니다.